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2D MEMS 探针卡 For CIS

2D MEMS 探针卡 For CIS

产品详情

2D MEMS 探针卡 For CIS


图像识别系统 CIS专用MEMS探针卡2D MEMS 探针卡 For CIS.jpg

以2D MEMS技术应用于 CIS 产品的测试 ,将数以千计的

MEMS 探针以激光焊接方式焊接于陶瓷基板上 ,优秀的高

密度探针准确分布能力 ,减少人工操作 ,更低误差 ,更低成

本。优化探针机械结构设计 ,镀金/镀铑材料选择使得微针

的CIS探针卡拥有更低落尘量 ,优秀的接触电阻性能。


特点 Features

低至60um精度的激光焊接技术 ,产量稳定 ,对位准确

去耦电容能更接近测试位置 /低探针尖点 /低回路电感

较小划痕和位移 ,极低落尘量 mark Size

9.4um@80um O/D

探针可单独更换 ,更易于维护