2D MEMS 探针卡 For CIS
图像识别系统 CIS专用MEMS探针卡
以2D MEMS技术应用于 CIS 产品的测试 ,将数以千计的
MEMS 探针以激光焊接方式焊接于陶瓷基板上 ,优秀的高
密度探针准确分布能力 ,减少人工操作 ,更低误差 ,更低成
本。优化探针机械结构设计 ,镀金/镀铑材料选择使得微针
的CIS探针卡拥有更低落尘量 ,优秀的接触电阻性能。
特点 Features
低至60um精度的激光焊接技术 ,产量稳定 ,对位准确
去耦电容能更接近测试位置 /低探针尖点 /低回路电感
较小划痕和位移 ,极低落尘量 mark Size
9.4um@80um O/D
探针可单独更换 ,更易于维护